Mikrostrukturální analýza materiálů

Pokročilé služby přípravy vzorků FIB na úrovni procesních destiček{0}} a analýzy TEM poskytují přesnou přípravu vzorků a řešení strukturální analýzy pro pokročilé procesní čipy tím, že provádějí

GRGTEST Metrology poskytuje profesionální analytické služby s duálním-paprskem zaměřeným iontovým paprskem (DB-FIB). Mezi oblíbené testovací služby patří vzorové řezy TEM pro pokročilé procesy (14 nm

Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) se stala nepostradatelným analytickým nástrojem v oblasti materiálů a polovodičů. Jde o elektronově optický přístroj, který využívá vysokoenergetický

Zařízení na štěpení plátků a zobrazovací služby SEM jsou klíčovou technologickou podporou pro vědu o materiálech, elektronický průmysl a biomedicínský výzkum a jsou zvláště vhodné pro pozorování

Mikroskop pro atomovou sílu Bruker Dimension ICON6 podporuje 12 režimů, včetně kontaktu, klepání a klepání se špičkovou silou, aby vyhovoval potřebám testování různých vzorků a poskytoval různé

EDS je zkratka pro Energy Dispersive Spectrometer, což je metoda analýzy rentgenové energeticky disperzní spektroskopie. Jeho princip je založen na tom, že různé prvky vyzařují charakteristické

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching